jesd22 a108a
JEDECJESD22-A108.3*77.Passed.HighlyAcceleratedStressTest.(HAST)*.JEDECJESD22-A110.3*77.Passed.Autoclave*.JEDECJESD22-A102.3*77.Passed.,2014年1月15日—高温栅偏HTHB(HighTemperatureGateBias)(参照JESD22-A108A).高温栅偏测试目的:检测封装过程中栅极...
芯片IC高温工作寿命试验之JEDEC JESD22
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2022年4月24日—加速因素(1)电压,(2)温度。用途:(1)qualification、mortoring.(2)短时间测试作为burnin,作为早期失效的筛选screen。
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